+中文描述： 测试或检验半导体晶圆或器件（包括集成电路）用仪器及装置
+英文描述： For measuring or checking semiconductor wafers or devices (including integrated circuits)
+第一计量单位名称： 台
+第二计量单位名称： 千克
| 出口目的国 | 金额美元 | 出口数量 | 数量单位 | 第二数量 | 第二数量单位 |
| 俄罗斯 | 17743647 | 730 | 台 | 43666 | 千克 |
| 日本 | 16011542 | 249 | 台 | 189308 | 千克 |
| 中国台湾 | 10332518 | 2141 | 台 | 62083 | 千克 |
| 中国香港 | 9334938 | 8393 | 台 | 171910 | 千克 |
| 菲律宾 | 8867459 | 602 | 台 | 37029 | 千克 |
| 进口来源国 | 金额美元 | 进口数量 | 数量单位 | 第二数量 | 第二数量单位 |
| 马来西亚 | 180926181 | 626 | 台 | 277665 | 千克 |
| 日本 | 139242782 | 990 | 台 | 497597 | 千克 |
| 中国台湾 | 95563977 | 7142 | 台 | 283841 | 千克 |
| 美国 | 82190368 | 985 | 台 | 130942 | 千克 |
| 匈牙利 | 27902079 | 229 | 台 | 35529 | 千克 |
| 海关编码 | 附加码 | 商品名称 | 规格型号 |
| 90308200 | 00 | IV曲线测试仪/用途:用于检测太阳能电池... | 型号:PVPM6020C,品牌:PV,带记录装置 |
| 90308200 | 00 | SIM卡模拟器及一致性测试仪 | IT3 |
| 90308200 | 00 | 半导体测试机 | microFLEX |
| 90308200 | 00 | 半导体测试机 | TERS0-653888 |
| 90308200 | 00 | 半导体晶片检测仪 | 检测半导体晶片功能;BERGER牌;2216;无记录... |
| 90308200 | 00 | 半导体器件检测仪P-X系统/PRECITEC牌 | 型号P-X利用白光测量原理对半导体进行检测 |
| 90308200 | 00 | 逻辑分析仪 | J/16821A/AGILENT牌/卫星用 |
| 90308200 | 00 | 密码芯片检测仪 | 备注;Delphi牌;备注;MISC01;不带记录装置 |
| 90308200 | 00 | 密码芯片检测仪（旧） | 检测密码芯片用;德尔福牌;检测用;无型号;不... |
| 90308200 | 00 | 密码芯片检测仪（旧）（修理费） | 检测密码芯片用;德尔福牌;检测用;无型号;不... |
| 90308200 | 00 | 太阳能电池I-V测试仪 | ;Berger牌型号PSS10II;带有记录装置 |
| 90308200 | 00 | 太阳能电池组件测试仪用高压绝缘检测仪 | P5S8,品牌:3S |
| 商品编码 | 9030820000 | ||||
| 商品名称 | 测试或检验半导体晶圆或器件（包括集成电路）用的仪器 | ||||
| 申报要素 | 0.品牌类型[必填] 1.出口享惠情况[必填] 2.用途[必填] 3.功能[必填] 4.是否带记录装置[必填] 5.品牌（中文或外文名称）[必填] 6.型号[必填] 7.测试结果显示内容（例如，电压值、电流值等）[必填] 8.GTIN[选填] 9.CAS[选填] 10.其他[选填] | ||||
| 法定单位名称 | 台 | 法定第二单位 | 千克 | ||
| 最惠国进口税率 | 0 | 普通进口税率 | 20% | 暂定进口税率 | |
| 消费税率 | 0 | 出口暂定税率 | 出口关税率 | ||
| 增值税率 | 13% | 海关监管条件 | 检验检疫 | ||
| 检验检疫信息 | 1. 代码:9030820000999 名称:测试或检验半导体晶圆或器件（包括集成电路）用的仪器 类型:电子测量仪 HS代码:9030820000 HS名称:测试或检验半导体晶圆或器件（包括集成电路）用的仪器 | ||||
中国出口测试或检验半导体晶圆或器件（包括集成电路）用仪器及装置研究报告目录
期限：年1月~年月Part Ⅰ 中国出口测试或检验半导体晶圆或器件（包括集成电路）用仪器及装置按国别分类分析
1.1 按国别分类统计分析
1.2 中国出口到全球各国每月数量变化分析
1.3 中国出口到全球各国每月金额变化分析
Part Ⅱ 中国出口测试或检验半导体晶圆或器件（包括集成电路）用仪器及装置按省市分类分析
2.1 按省市与海关分类统计分析
2.2 各省市每月出口数量变化分析
2.3 省市国别平衡表
Part Ⅲ 中国出口测试或检验半导体晶圆或器件（包括集成电路）用仪器及装置按贸易方式与省市分析
3.1 按贸易方式分类统计分析
3.2 按省市分类分析
Part Ⅳ 中国出口测试或检验半导体晶圆或器件（包括集成电路）用仪器及装置价格及趋势分析、出口产品档次分析
中国进口测试或检验半导体晶圆或器件（包括集成电路）用仪器及装置研究报告目录
期限：年1月~年月Part Ⅰ 中国进口测试或检验半导体晶圆或器件（包括集成电路）用仪器及装置按国别分类分析
1.1 按国别分类统计分析
1.2 中国进口到全球各国每月数量变化分析
1.3 中国进口到全球各国每月金额变化分析
Part Ⅱ 中国进口测试或检验半导体晶圆或器件（包括集成电路）用仪器及装置按省市分类分析
2.1 按省市与海关分类统计分析
2.2 各省市每月进口数量变化分析
2.3 省市国别平衡表
Part Ⅲ 中国进口测试或检验半导体晶圆或器件（包括集成电路）用仪器及装置按贸易方式与省市分析
3.1 按贸易方式分类统计分析
3.2 按省市分类分析
Part Ⅳ 中国进口测试或检验半导体晶圆或器件（包括集成电路）用仪器及装置价格及趋势分析、进口产品档次分析
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